ENG
产品系列
FA分析能力
无损分析
Non Destructive Analysis
IR显微镜
外观检验
IR显微镜富艾捷BX53M
TDR
电路检验
时域反射仪是德N1000A
I-Vcurve
IR显微镜
半导体参数仪Tektronix 4200A-SCS
离子抛光 Ionpolishing
IR显微镜
离子研磨仪HITACHI ArBlade5000
X-ray
内部打线检查
X-RAYYXLON CHEETAHEVO
有损分析
Destructive Analysis
Projection Moire
翘曲分析
热变形分析仪Insidix TDMCOMPACT3
De-cap
产品内部及弹坑
激光开盖机 富艾捷SmartEtchⅡ
SEM+EDX
芯片表面检查及元素分析
扫描式电子显微镜 （SEM+EDX）ZEISS
Cross-Section
产品截面分析
切片研磨机UniPOL201
SAM
分层分析
超音波扫描显微镜C-SAMHITACHI FS300Ⅲ
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